IP防护等级试具厂家的test mode是为了更方便的测试芯片

文章来源：创鑫仪器    时间：2021-05-13 14:46:42

IP防护等级试具模块制造商根据所用存储器芯片的特性将SPD中的定时信息写入EEPROM并写入EEPROM。主要目的是协助北桥芯片精确调整存储器的物理/时序参数，以达到佳使用效果。如果BIOS设置选项在BIOS中设置为“By SPD”。然后，在通电时，北桥将根据SPD中的参数信息自动配置相应的存储器定时和控制寄存器，以避免由校准错误引起的人为错误。当然，对于DIYer，定时和控制参数也可以自由调整（物理参数仍然由SPD或北桥自测确定）。、

自动化测试治具从自动化程序上分：1、手动测试，一般为夹锁治具，直接用探针把输入输出引出来;2、半自动测试，一般为气动及MCU，可以设备自身做一些探制及量测3、全自动测试，在测试过程中不要任何人工参与的功能测试。

IP防护等级试具中的test mode是为了更方便的测试芯片，毕竟datasheet里面定义的普通功能很少，用来测试芯片有很大的局限性，效率也比较低。 test mode属于密资料，不会开放给用户看的，里面涉及到的一些command和spec 都是只有公司内部有关的人才可以看。test mode会测各个电路模块的功能是否正常，某个signal在工作中的电压是否满足spec， design的bug 很多是在这个时候抓到的。

在ATE，更复杂、更密集的电路，以及与系统内部或外部的其他设备，包括与系统前后部分的交互，需要同时进行多个测试。 虽然这看起来像是一个工厂测试问题，但它也是一个面向测试的设计挑战。 如果一个设计团队没有预先做到这一点，生产阶段测试可能会出错，导致低产量，性能差的芯片，更糟糕的是，芯片寿命太短会带来严重影响。利用ATE测试座就是一个很好的ATE测试方案。 召回汽车的成本远远大于在车辆出厂前解决问题的成本。

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