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连接器电气性能测试项目及性能参数

电气性能测试

主要测试项目和介绍如下：

接触阻抗（Contact Resistance）

目的：维持连接器在使用期限内的接触阻抗，以减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减。

测试方法参考：EIA-364-23 (EIA-364-06) or MIL-STD-1344A。

测试要点：

a. 测试电流/电压100mA@20mV，被测试连接器（连接系统）无负载。

b. 测试电流为低电流是为了避免接触阻抗受到端子（导体）热电效应影响。

c. 测试电压为低电压是为了避免端子（导体）之间接触界面绝缘薄膜被击穿和熔化。

规范要求：一般要求50m（initial）；100m（final），即在寿命测试或环境测试后。

定义接触阻抗此参数是为了减少信号和能量在传输过程中的损失或衰减，电流就像水流一样，阻力越小，能量的损失和衰减就越少。

就连接器的接触处而言，影响其阻抗大小的因素有正向力（对于弹性接触结构而言），接触环境，如端子（导体）的表面粗糙度，表面处理方式（如电镀的金属特性和致密性），端子与端子（或其他导体）的结合方式（是焊接or铆合or弹性接触等）。

从电学理论角度来说，接触阻抗为C点绿色圈接触处的阻抗；在客人使用角度来说，连接器提供A点到B点的导通（连接），所以客人要的阻抗应包含从A点到B点的所有导体本身的阻抗和接触处的阻抗（包括焊接、铆合等接触方式） 如下图所示。