电子产品跌落测试(试验)标准是什么

跌落试验标准的参考方法主要是来源包装和运输包装的基本试验标准。电子产品的跌落试验是在电子产品包装后模拟不同的边缘，角，当表面和不同高度坠落在地面时，了解产品损坏情况，评估产品包装组件坠落时能承受的堕落高度和抗冲击强度，根据产品实际情况和国家标准范围进行改进，完善包装设计，80%的电子产品损坏大多来自坠落碰撞。研发人员经常花费大量的时间和成本对产品进行相关的质量测试，最常见的是坠落测试。

跌落测试方法：

坠落高度主要以产品重量和可能的坠落概率为参考标准，坠落表面应为混凝土或钢制的光滑，刚性表面坚硬(如有特殊要求，应由产品规格或客户测试规范决定)。

对于不同的国际规范，即使产品重量相同，也会有不同的下降高度。对于手持产品(如手机，MP3等)大部分掉落高度大多介于100cm~150cm不等，IEC对于≦2kg手持产品建议1000cm坠落高度不能损坏，MIL建议坠落高度为1222cm，Intel对于手持产品(如手机)，建议降低高度为1500cm。测试的严格程度取决于跌落高度.跌落次数.跌落方向。对于跌落实验国家有专门的标准，跌落方式是一角，三边，六面自由落体，跌落高度取决于产品重量。分为2250px.1900px.1625px几个等级。

1.自由跌落

目的：确定产品在搬运过程中因粗装卸而坠落的适应性，或确定安全要求*低牢固度。本试验主要用于非包装试验样品，其包装可作为运输箱试验样品的一部分。

2.重复自由跌落

目的：确定连接器、小型遥控装置等可能频繁跌落到硬表面的元件装置，以承受反复跌落的适应性。

跌落试验标准:

GB/T4857.1-2019包装运输包装件基本试验第一部分：试验时各部位的标注方法；

GB/T4857.2-2005包装运输包装件基本试验第二部分：温湿度调节处理；

GB/T4857.5-1992包装 运输包装件 跌落试验方法；

GB/T4857.17-2017包装运输包装件基本试验第17部分：编制性能试验大纲一般规则；

跌落测试的目的：

用于模拟未包装/包装的产品在搬运过程中可能自由坠落，检查产品的抗意外冲击能力，即评估货物外包装运输过程中的抗坠落能力。该实验通常用于坠落试验机。

跌落试验原理：

当包装箱，包装带轮，当产品从某个高度下降并与下降区域的地面接触时，会受到很大的冲量，从而导致包装箱，包装带轮，产品在包装箱中产生瞬态振动和一定位移，包装带轮，产品产生较大的应力和应变，抗跌落能力弱的包装箱，包装带轮，产品会因跌落而损坏或性能下降。试验结束后，包装箱，包装带轮，检测产品外观可判断包装箱，包装带轮，产品抗跌落能力强弱。